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CRI的Abrio成像系統(tǒng)提供了一種*的方法來測量和分析樣品中的微小量級雙折射。用偏振光測量雙折射率的空間分布的傳統(tǒng)方法繁瑣且耗時。Abrio技術通過自動化定量極化顯微鏡的過程，打開了雙折射成像世界的大門，允許你精確地計算出每一個像素在幾秒內的延遲幅度和方向
可檢測樣品：
l 光學材料
l 玻璃
l 聚合物
l 硅片
l 薄膜
l 鋁
l 石墨
特征：
l 每像素定量延遲數據
l 操作簡便，交互軟件
l 快速圖像采集（3s每幅）
l 延遲靈敏度到0.02nm
ABRIO成像系統(tǒng)
可視化和測量透射物體、反射物體（如玻璃，水晶，塑料，光纖，鋁等）雙折射結構，幾秒內實現所有像素點成像。該系統(tǒng)包含的外設顯微鏡綜合了*的液晶偏振光對比技術，控制電路，成像算法和交互式軟件。
定量雙折射數據
空間分辨率，數據采集速率，測量范圍和靈敏度使得Abrio成像系統(tǒng)成為分析注塑件，制造中的聚合物纖維，細胞生物學中的微觀結構和制藥工業(yè)中的化合物的應力和應變的理想工具。
自動的延遲量和方位角數據
系統(tǒng)將自動計算樣本圖像中每個像素的延遲和方位數據。 原始數據和計算數據都可以存儲用于記錄和審查。
背景更正
系統(tǒng)將使用算法自動計算背景信息，以獲得高靈敏度和準確度。
偏振方向無關
*的CRI的Abrio成像技術，偏振圖像是獨立于偏振器或標本的方向。 這導致了亮度，細節(jié)和清晰度均勻的圖像。
快速圖像采集
CRI簡易的軟件程序可讓您在幾秒鐘內生成處理后的圖像
無移動部件
不需要手動操作偏振片或樣品。 計算機控制的基于液晶的光學系統(tǒng)可以產生*的像素到像素圖像配準和精確的偏振控制。
全面的軟件分析工具
軟件工具可用于分析各種延遲量值和方向參數，
包含：
•線掃描
•偽彩色覆蓋
•單像素測量
•矢量疊加
•閾值
•面積計算
系統(tǒng)部件
基于液晶的偏振補償器
Abrio光學系統(tǒng)的核心是液晶（LC）組件，它可以改變光線的偏振態(tài)，而不會使部件運動，產生噪聲，zui重要的是沒有圖像偏移。
綠色帶通濾光片
當通過目鏡觀察時，546納米濾光片將使圖像呈現高對比度綠色，這對于LC偏振補償光學器件是*的。
圓偏振片
圓偏振器放置在光源和樣品之間。 確切位置取決于您的顯微鏡品牌和型號。
光耦合器
在顯微鏡的相機端口和CCD相機之間放置0.45x或0.5x光耦合器。 這增加了入射CCD的光量，從而減少了圖像捕獲時間。
CCD相機，計算機和顯示器
這些組件和預安裝的PCI板卡允許您捕捉數字圖像。數字圖像可以進行處理，歸檔，導出或檢索，而不會損失質量。
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